主要用途、功能及特点该产品采用了与被测对象发光面形状相吻合的探测器设计思想,开发了新的工艺途径,实现了环形和半圆形LD阵列半导体激光器输出参数的直接接收与测量。产品突破了大尺寸、高灵敏度光敏面材料、结构、工艺、光谱均匀性和抗激光破坏等关键技术,适用于半导体激光器、泵浦固体激光器及其激光系统的研制、生产中作为关键质量控制点的半导体激光器泵浦光输出参数的测试分析和质量控制。
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激光功率测量
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激光功率稳定性测量
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激光能量测量
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激光能量稳定性测量
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测试数据统计分析
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功率、能量时间特性曲线
主要技术指标光谱响应范围 400~1700nm
校准波长 808nm或用户指定的其它波长
光敏面形 半圆柱型,接收表面为外表面:Ф8mm,长度≥50mm
能量测量响应时间 ≤5s
激光能量测量适用脉冲频率 单脉冲
激光功率测量 ≥10Hz或连续激光
测量范围 激光能量测量: 10mJ~2J
激光功率测量: 100mW~100W
校准精度 ±3%
电源 AC 220V(1±10)V% ,50Hz(1±5%)Hz
功耗 ≤30W
结构特点 台式
外形尺寸(W×H×D) 探测器 ≤250mm×200 mm×300 mm
控制主机 ≤310mm×185 mm×450 mm
重量 探测器:≤3kg,控制主机:≤3kg